關於Thermal Transient Test and Measurement-暫態熱阻量測系統


MicReD® (Microelectronics Research and Development) 最初是由布達佩斯技術與經濟大學 (BME) 電子元件研究所創立的公司,已被Mentor Graphics 併入為MAD部門中非常重要的產品。MicReD 團隊專門從事 IC 封裝的熱特性量測,包括單顆及陣列 LED、堆疊晶片、多晶片封裝、高功率半導體元件、熱介面材料、甚至整個電子系統。除了量測現有的封裝體外,T3Ster的量測結果還能產生熱分析模型,並將相關數據匯入電子散熱軟體FloTHERM和FloEFD中,便於工程師和開發人員進一步的模擬與驗證,協助設計出全面的散熱解決方案。


T3Ster 量測技術


T3Ster量測設備可搭配各種硬體配件,以符合使用者各式各樣的量測需求。其中包括了T3Ster主系統及其他附屬量測配件如:增壓穩壓系統(Booster) 、恆溫控制器(Thermostat)、熱電偶前置放大器(Thermocouple Pre-amplifier)、符合JEDEC量測規範之自然對流腔體(Still-air Chambers)、各式測試板以及應用於熱介質材料(Thermal Interface Materials, TIM)熱傳導係數的量測設備。另外,T3Ster系統也可連接至光學檢測設備TeraLED,可測試高功率LED的光學與熱特性。


T3ster 連結Booster增壓系統以及TeraLed



T3Ster的主要特色包括:


•提供市場上最準確的熱阻值量測值


•執行最新的 JEDEC 熱測試標準


•結構函數能快速檢查出堆疊封裝的晶粒故障


•多種可擴充的設備,軟硬體均配備選項


•擴展箱 – 針對客戶需求提供不同測試設備


•符合 JEDEC 標準的熱阻測試和暫態特性


•不同型號的恒溫器,支持 K 係數標定


•可與Flotherm/FloEFD熱流軟體結合量測


•內建熱阻材料資料庫


•操作方便,支援 NB 進行測量監控
T3ster的主要應用範圍包括:


•可重現熱阻值與熱流路徑


•非破壞性故障檢測分析


•堆疊晶片封裝熱阻量測


•Power LED 特性檢測


•材料特性鑑定(如:熱介質材料的熱傳導率)。


•熱模型驗證

•高功率發光二極體 L-I-V特性描述。


•通過迴圈提供功率和結構函數分析,進行可靠性測試


•應用環境中對現有系統內器件的熱測試






Flotherm+T3ster 整合型錄

Download File



T3ster technical information 型錄

Download File



T3ster 系列產品 型錄

Download File



T3ster 產品型錄

Download File